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三離子束切割儀在微納米尺度的切割中具有廣泛的應(yīng)用前景。然而，由于微納米尺度的切割要求更高的精確性和控制能力，所以也面臨著一些挑戰(zhàn)。本文將重點(diǎn)探討三離子束切割儀在微納米尺度切割中的挑戰(zhàn)，并介紹相應(yīng)的應(yīng)對(duì)策略。在微納米尺度的切割中，較大的挑戰(zhàn)之...
電子顯微鏡觀察的樣品需經(jīng)過鍍膜處理，以實(shí)現(xiàn)或改善樣品的成像效果。相比傳統(tǒng)鍍膜機(jī)，徠卡EMACE鍍膜機(jī)的所有零件都可以單獨(dú)拆卸和清洗；如需特別清潔，還可以用備用零件換下原裝件。例如，大玻璃門是可拆卸的，并且平面易于擦拭。內(nèi)部護(hù)罩、轉(zhuǎn)移艙、載物臺(tái)和光源同樣支持輕松拆卸，便于清潔或更換。本教程詳細(xì)介紹了清潔徠卡EMACE鍍膜機(jī)的步驟，以及拆卸內(nèi)部組件的方法。徠卡EMACE鍍膜機(jī)的清潔程序清潔過程所需物品：乳膠丁腈手套→重要：手套外部可能被粉末（滑石粉）或灰塵污染，因此佩戴前需先用肥...
全場景顯微成像分析平臺(tái)MICA集3D采集和AI定量于一體。3D組織成像廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)領(lǐng)域。研究人員利用它來揭示組織組成和完整性的詳細(xì)信息，或從實(shí)驗(yàn)操作中得出結(jié)論，或比較健康與不健康的樣本。本文介紹了MICA如何幫助研究人員進(jìn)行3D組織成像。3D組織成像模式生物或患者的組織切片可用于分析從組織到細(xì)胞的各種形態(tài)，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)健康和非健康樣本以及對(duì)照樣品和實(shí)驗(yàn)樣品之間的差異。例如，是否存在特定細(xì)胞或它們的形態(tài)（即形狀、體積、長度、面積）都是有意義的參數(shù)。熒光顯微鏡有助于識(shí)別特定標(biāo)記...
真空鍍膜儀是一種常用的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，用于在物體表面形成薄膜。在使用過程中，可能會(huì)遇到各種故障。以下是一些常見的真空鍍膜儀故障及解決方式：泄漏問題：泄漏是最常見的故障之一?？赡苁怯捎诿芊馊匣⒚芊獠涣?、管路連接松動(dòng)等原因?qū)е碌恼婵招孤?。泄漏?huì)導(dǎo)致真空度下降，影響薄膜的質(zhì)量和均勻性。泵無法啟動(dòng)：如果真空泵無法啟動(dòng)，可能是由于電源故障、線路連接錯(cuò)誤、電機(jī)損壞等原因。此時(shí)需要檢查電源供電情況、線路連接是否正常，必要時(shí)需要更換電機(jī)。真空度下降：在使用過程中，真空度突然下降可能是由于泵故障...
透射電子顯微鏡所需的高真空度（TEM）極大地減弱了研究自然存在于水相中的標(biāo)本的能力：將“濕”標(biāo)本暴露在遠(yuǎn)低于水蒸汽壓的壓力下，將導(dǎo)致水相在柱中迅速沸騰，對(duì)標(biāo)本的結(jié)構(gòu)造成破壞性后果。因此，在常規(guī)TEM中使用了各種方法在檢查前干燥標(biāo)本——這是一個(gè)準(zhǔn)備步驟，通常與限制結(jié)果重要性的偽影有關(guān)。冷凍透射電子顯微鏡一種解決標(biāo)本制備過程中干燥問題和顯微鏡真空中水分揮發(fā)性問題的方法是在-180°C及以下的特殊支架中，以低升華速率在冷凍狀態(tài)下檢查樣品。這項(xiàng)技術(shù)被稱為冷凍透射電子顯微技術(shù)（冷凍TE...
想象一下，您可以輕松彌合微米和納米兩種尺度之間的差距，連接功能性和超微結(jié)構(gòu)的信息。對(duì)于特定的研究問題，這意味著采用不同的樣本制備和顯微成像技術(shù)來結(jié)合多種模式，如活細(xì)胞成像、高壓冷凍、超薄切片和（冷凍）電子顯微成像。CLEM方法有助于彌合這一差距。徠卡顯微系統(tǒng)的CLEM解決方案可確保樣本活性、進(jìn)行質(zhì)量檢查，確保三維目標(biāo)定位機(jī)制精確可靠。用戶可以利用這些解決方案的優(yōu)勢(shì)，在合適的時(shí)間立即識(shí)別合適的細(xì)胞，獲得高分辨率的冷凍共聚焦數(shù)據(jù)，或?qū)晒庑畔⑴c超微結(jié)構(gòu)環(huán)境結(jié)合起來。CLEM的用途...
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